ADI公司的MEMS加速度计实现结构缺陷的早期检测

来源:亚德诺半导体技术(上海)有限公司
2016-10-12 10:00:00
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北京2016年10月12日电 /美通社/ -- Analog Devices, Inc.(ADI)全球领先的半导体公司最近推出了三轴MEMS加速度计,能以极低的噪声执行高分辨率振动测量,可通过无线传感器网络实现结构缺陷的早期检测。最新ADXL354和ADXL355加速度计的低功耗性能可以延长电池寿命,同时通过降低电池更换次数而延长产品寿命。ADXL354和ADXL355的低噪声加上低功耗性能使得现在能以高性价比实现低电平振动测量应用,比如结构健康监控(SHM)。此外,ADXL354和ADXL355加速度计的倾斜稳定性提供了温度与时间范围内的出色可重复性,是采用惯性测量单元(IMU)和倾角计的无人机中方向与导航系统的理想之选。这些最新的加速度计产品可在所有环境下提供可重复的倾斜测量,它们在恶劣环境中无需进行大量校准即可实现最小倾斜误差。

ADXL354和ADXL355加速度计能以0.15mg/C(最大值)的零失调系数保证温度稳定性。这种稳定性最大程度地减少了校准和测试相关的资源和成本开销,帮助设备OEM制造商实现更高的吞吐速率。此外,密封封装还可确保最终产品出厂很久以后还能符合可重复性与稳定性规范。

ADXL354与ADXL355加速度计的输出满量程范围(FSR)为+/-2g至+/-8g,具有1 Hz至1 kHz可选数字滤波以及25μ/√Hz低噪声密度,而功耗不足200μA;这些产品以更低的功耗和BOM成本实现了贵得多的器件所具备的性能水平。

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